四探针电阻率测试是一种常用的电学测量方法，特别适用于测量半导体材料和薄膜的电学性质。此方法基于欧姆定律，即电流通过导体时，电流与电压成正比，比例常数为电阻。

测试中，四个等间距配置的探针接触被测材料的表面。其中两个探针用于施加电流，另外两个探针用于测量电压。通过测量得到的电流和电压值，可以计算出材料的电阻率。这种方法能够消除接触电阻对测量结果的影响，因此可以得到更准确的电阻率值，特别是在测量高阻值材料或薄膜时具有明显优势。

为了提高测量的准确性和稳定性，四个电极（探针）的排列方式至关重要。两个电流探针之间以及两个电压探针之间都应保持一定距离，以避免电流或电压的变化受到相邻电极的影响。

四探针法的原理还可以扩展到测量材料的电导率、载流子浓度等其他电学性质。通过改变探针间的距离和布置方式，可以得到不同方向上的电学性质分布，从而更全面地了解材料的电学特性。

总之，四探针电阻率测试原理简单而有效，对于研究材料的电性质、导电性等具有重要意义，并为材料科学研究提供了重要的实验手段。