这款由苏州同创电子有限公司研发的硅材料复合测试仪SZT-5，结合了二种硅材料测试仪器的功能，为用户提供了前所未有的测试体验。成为了电子工程师和研究人员的得力助手。

一、SZT-5硅材料复合测试仪的概述

SZT-5硅材料复合测试仪，不仅具备二量程的电阻测量功能，还可以通过手持式四针测试头或座式测试架，轻松测量片状、柱状或块状半导体材料的电阻率。

SZT-5还配备了整流法硅材料P-N极性判别仪，能够准确判断硅材料的导电类型。

二、技术参数

测量范围：电阻率测量范围为0.01-200Ω-cm，方块电阻测量范围为0.01-200Ω-口，电阻测量范围为0.01-200.0Ω。

数字电压表：具备200mV单一量程，误差为读数±0.2%±3字，输入电阻超过10MΩ。

恒流源：电流输出为0~10mA连续可调，具备1mA和10mA两个量程，误差为±0.2%±3字。

手持式四探针测试头：探针间距为1mm，探针机械游移率为±1.0%，探针材料为碳化钨，最大压力为2Kg。

三、应用领域

SZT-5硅材料复合测试仪普遍用于半导体材料的研究与生产、硅材料薄层扩散和导电薄膜的测试，以及其他需要精确测量电阻率和导电类型的领域。为用户提供了高效、精确的测试解决方案。

如果您对SZT-5感兴趣，欢迎随时咨询我们，我们的专业团队将为您提供详细的产品信息和专业的技术支持。​